Soft x-ray free electron laser microfocus for exploring matter under extreme conditions

A.J. Nelson, S. Toleikis, H. Chapman, S. Bajt, J. Krzywinski, J. Chalupsky, L. Juha, J. Cihelka, V. Hajkova, L. Vysin, T. Burian, M. Kozlova, R.R. Faustlin, B. Nagler, S.M. Vinko, T. Whitcher, T. Dzelzainis, O. Renner, K. Saksl, A.R. KhorsandP.A. Heimann, R. Sobierajski, D. Klinger, M. Jurek, J. Pelka, B. Iwan, J. Andreasson, N. Timneanu, M. Fajardo, J.S. Wark, David Riley, T. Tschentscher, J. Hajdu, R.W. LeeShow 14 moreShow less